Fa'apitoa SiC Seed Crystal Substrates Dia 205/203/208 4H-N Type mo Fesootaiga Optical
Fa'atulagaga fa'apitoa
Pa'u fatu silicon carbide | |
Polytype | 4H |
Sese i le fa'atulagaina o le fogāeleele | 4° agai atu i le<11-20>±0.5º |
Tete'e | fa'apitoa |
Lapoa | 205±0.5mm |
Mafiafia | 600±50μm |
Fa'alavelave | CMP,Ra≤0.2nm |
Mafiafia o le Micropipe | ≤1 tasi/cm2 |
Maosi | ≤5, Umi Aofa'i ≤2 * Lapo'a |
Sipi/fa'asolo i autafa | Leai se tasi |
Fa'ailogaina o le laser i luma | Leai se tasi |
Maosi | ≤2, Umi Aofa'i ≤ Lapo'a |
Sipi/fa'asolo i autafa | Leai se tasi |
Vaega o le Polytype | Leai se tasi |
Fa'ailogaina o le laser i tua | 1mm (mai le pito i luga) |
Pito | Chamfer |
Afifiina | Kaseti tele-wafer |
Uiga Autū
1. Fausaga o le Kilisitala ma le Faatinoga o le Eletise
· Mautu Fa'a-Kristalografika: 100% 4H-SiC polytype dominance, leai ni mea e aofia ai le tele o tioata (e pei o le 6H/15R), fa'atasi ai ma le XRD rocking curve atoa le lautele i le afa-maualuga (FWHM) ≤32.7 arcsec.
· Feavea'i Maualuga: Feavea'i eletise e 5,400 cm²/V·s (4H-SiC) ma le feavea'i pu e 380 cm²/V·s, e mafai ai ona mamanuina masini e maualuga le taimi e alu ai.
·Malō o le Fa'avevela: E tete'e atu i le 1 MeV o le fa'avevela o le neutron ma se tulaga fa'aleagaina e 1×10¹⁵ n/cm², e fetaui lelei mo galuega tau va'alele ma fa'aniukilia.
2. Meatotino Fa'avevela ma Fa'amekanika
· Faiga Fa'avevela Mata'ina: 4.9 W/cm·K (4H-SiC), e fa'atoluina le silicon, e lagolagoina ai le fa'agaoioiga i luga atu o le 200°C.
· Fa'asologa Maualalo o le Fa'alauteleina o le Vevela: CTE o le 4.0×10⁻⁶/K (25–1000°C), ma fa'amautinoa ai le fetaui ma afifiina e fa'avae i le silicon ma fa'aitiitia ai le fa'alavelave fa'avevela.
3. Puleaina o Faaletonu ma le Sa'o o le Faagasologa
· Mafiafia o le Micropipe: <0.3 cm⁻² (8-inisi wafers), mafiafia o le dislocation <1,000 cm⁻² (fa'amaonia e ala i le KOH etching).
· Tulaga Lelei o le Luga: Fa'apupula CMP i le Ra <0.2 nm, e ausia ai mana'oga o le lamolemole o le EUV lithography-grade.
Fa'aoga Autu
| Domain | Faʻataʻitaʻiga o Talosaga | Fa'amanuiaga Fa'atekinolosi |
| Fesootaiga Va'ai | 100G/400G lasers, silicon photonics hybrid modules | E mafai e mea e fai i fatu InP ona fa'aogaina le vaeluaga tuusa'o o le fusipa'u (1.34 eV) ma le heteroepitaxy e fa'avae i le Si, ma fa'aitiitia ai le leiloa o le fa'apipi'i opitika. |
| Ta'avale Malosi Fou | 800V inverters maualuga-voltage, chargers onboard (OBC) | E mafai e le 4H-SiC substrates ona tatalia le >1,200 V, ma faʻaitiitia ai le gau o le faʻaosofiaga e le 50% ma le voluma o le masini e le 40%. |
| Fesootaiga 5G | Masini RF o galu milimita (PA/LNA), fa'amalosi eletise o le nofoaga autu | O mea fa'apipi'i SiC e fa'amamago (resistivity >10⁵ Ω·cm) e mafai ai ona fa'aogaina le feso'ota'iga fa'a-vasega maualuga (60 GHz+). |
| Meafaigaluega Fa'apisinisi | Sensors o le vevela maualuga, transformers o le eletise, monitors o le reactor faaniukilia | O mea e fai i fatu InSb (0.17 eV bandgap) e avatu ai le lagona maneta e oo atu i le 300%@10 T. |
Fa'amanuiaga Autu
O mea e fa'aaogaina ai le SiC (silicon carbide) seed crystal substrates e tu'uina atu ai le fa'atinoga e le mafaatusalia ma le 4.9 W/cm·K thermal conductivity, 2–4 MV/cm breakdown field strength, ma le 3.2 eV wide bandgap, e mafai ai ona fa'aogaina le malosi maualuga, maualuga le frequency, ma le vevela maualuga. O lo'o i ai le leai o se micropipe density ma le <1,000 cm⁻² dislocation density, o nei mea e fa'amautinoa ai le fa'atuatuaina i tulaga faigata. O lo latou inertness fa'akemikolo ma CVD-compatible surfaces (Ra <0.2 nm) e lagolagoina ai le tuputupu a'e heteroepitaxial alualu i luma (e pei o le SiC-on-Si) mo optoelectronics ma EV power systems.
Auaunaga a le XKH:
1. Gaosiga Fa'apitoa
· Fa'atulagaga Fa'alava Fetu'una'i: Fa'alava e 2–12-inisi ma ni tipi fa'ata'amilomilo, fa'atafafā, po'o ni tipi fa'apitoa (±0.01 mm le fa'atagaina).
· Puleaina o le Fa'aopoopoina: Fa'aopoopoina sa'o o le naitorosene (N) ma le alumini (Al) e ala i le CVD, ma ausia ai le tete'e mai le 10⁻³ i le 10⁶ Ω·cm.
2. Tekonolosi Fa'agasologa Fa'atekonolosi'
· Heteroepitaxy: SiC-on-Si (e fetaui ma laina silicon e 8-inisi) ma le SiC-on-Diamond (fa'avevela o le vevela >2,000 W/m·K).
· Fa'aitiitia o Fa'aletonu: Fa'a'ofuina ma fa'amamago i le hydrogen e fa'aitiitia ai fa'aletonu o le micropipe/density, fa'aleleia atili ai le fua o le wafer i le >95%.
3. Faiga o Pulega o le Tulaga Lelei'
· Su'ega Mai le I'uga e o'o i le I'uga: Raman spectroscopy (fa'amaoniga o le polytype), XRD (crystallinity), ma le SEM (su'esu'ega o mea sese).
· Fa'amaoniga: Tausisia le AEC-Q101 (ta'avale), JEDEC (JEDEC-033), ma le MIL-PRF-38534 (vasega fa'amiliteli).
4. Lagolago i le Sapalai o Sapalai i le Lalolagi Atoa'
· Malosiaga Gaosiga: Gaosiga faalemasina >10,000 wafers (60% 8-inisi), faatasi ai ma le tiliva faafuasei i totonu o le 48 itula.
· Feso'ota'iga o Loketisi: Afifiina i Europa, Amerika i Matu, ma Asia-Pasefika e ala i uta i le ea/sami fa'atasi ai ma afifiina e pulea le vevela.
5. Atina'eina Fa'atasi Fa'atekinolosi'
· Fale Su'esu'ega Fa'atasi ma Su'esu'ega ma Atina'e: Galulue fa'atasi i le fa'aleleia atili o le afifiina o le SiC power module (e pei o le tu'ufa'atasia o le DBC substrate).
· Laisene IP: Tu'uina atu le laiseneina o tekinolosi tuputupu a'e epitaxial GaN-on-SiC RF e fa'aitiitia ai tau o su'esu'ega ma atina'e a tagata fa'atau.
Aotelega
O mea e fa'aaogaina ai le SiC (silicon carbide) fatu tioata, i le avea ai ma se mea taua, o lo'o toe fa'atulagaina ai filifili fa'apisinisi i le lalolagi atoa e ala i alualu i luma i le tuputupu a'e o le tioata, puleaina o fa'aletonu, ma le tu'ufa'atasia eseese. I le fa'aauau pea ona fa'aleleia le fa'aitiitia o fa'aletonu o le wafer, fa'ateleina le gaosiga o le 8-inisi, ma fa'alauteleina fa'avae heteroepitaxial (e pei o le SiC-on-Diamond), e tu'uina atu e le XKH ni fofo fa'atuatuaina maualuga, taugofie mo optoelectronics, malosiaga fou, ma gaosiga fa'aleleia. O la matou tautinoga i mea fou e fa'amautinoa ai o lo'o ta'imua tagata fa'atau i le le fa'aogaina o le kaponi ma faiga atamai, e fa'atautaia ai le isi vaitau o le lautele o le semiconductor ecosystems.









